Письмо ректору

  Телефонный   справочник

    Электронная     почта

  Министерство образования и науки РФ
5-100.png Программа повышения конкурентоспособности
Противодействие коррупции
Наука и образование против террора
Диссертационные советы
Российский студенческий центр
Социальный навигатор
Оформление социальной студенческой карты
Study in Russia
NEVOD.png Уникальная научная установка НЕВОД
TEMP.png Турнир «ТеМП 2018»
eend_fond.png Эндаумент-фонд НИЯУ МИФИ



Новости университета



09.03.2011

Участие НИЯУ МИФИ в работе Российско-Американской Президентской комиссии

28 февраля в рамках работы Российско-Американской Президентской комиссии НИЯУ МИФИ посетила делегация экспертов, представителей университетов и национальных лабораторий США, входящих в рабочую группу комиссии по научным и технологическим связям. Делегацию возглавлял директор Национального координационного офиса США по нанотехнологиям Тиге Клатон.

Российско-Американская Президентская комиссия была создана по итогам встречи президентов России и США Д.А. Медведева и Барака Обамы в июле 2009 года для определения направлений сотрудничества по совместным проектам и действиям, направленным на достижение стратегической стабильности, международной безопасности, экономического благосостояния.

Сотрудничество ведущих вузов США и России заключается в формировании совместных международных программ и проектов, обмене преподавательским и профессорским составом, обеспечении академической мобильности, поддержке научно-исследовательской деятельности молодых ученых, а также создании инструментов эффективного взаимодействия с органами власти и бизнес-сообществом.

В частности, рабочая группа по научным и технологическим связям под председательством директора Офиса по политике в сфере науки и технологий Белого дома Джона Холдрена и Министра образования и науки РФ А.А.Фурсенко работает над решением совместных задач, связанных с климатологией, информационными технологиями и нанотехнологиями.

Перед гостями НИЯУ МИФИ выступили:

М.П.Панин, проректор, исполнительный директор Программы создания и развития НИЯУ МИФИ, с презентацией об истории создания, современных задачах и перспективах развития университета;

И.С.Васильевский, доцент кафедры №67 «Физика наноразмерных гетероструктур и СВЧ-наноэлектроники», с докладом «Наноматериалы и нанотехнологии для создания нанотранзисторов и монолитных интегральных схем КВЧ диапазона длин волн»;

М.А.Пушкин, доцент кафедры №78 «Физико-технические проблемы метрологии», с докладом «Инструменты индустриальной нанометрологии нового поколения»;

А.А.Писарев, профессор кафедры №21 «Физика плазмы», с докладом «Разработка новых суперконденсаторов»;

А.П.Менушенков, профессор, декан Высшего физического колледжа, с докладом «Применение нанодобавок тугоплавких соединений для повышения критического тока высокотемпературных сверхпроводящих материалов»;

Р.В.Петров, заместитель начальника Управления развития перспективных исследований, с докладом «Исследование и разработка наноструктурной бессвинцовой пьезоэлектрической керамики для построения магнитоэлектрических устройств»;

В.Л.Саваторова, доцент кафедры №6 «Общая физика», с сообщением: «Российско-американская программа развития сотрудничества в высшем образовании и научных исследованиях между Национальным исследовательским ядерным университетом «МИФИ» и Техасским университетом;

Н.Б.Нарожный, заместитель председателя Ученого совета, заведующий кафедрой №32 «Теоретическая ядерная физика», с сообщением о сотрудничестве НИЯУ МИФИ с Университетом Мериленд, целью которого является разработка совместных образовательных программ в области инженерной ядерной физики.

По окончании докладов гости посетили Наноцентр НИЯУ МИФИ и кафедру №2 «Автоматика», оснащенную оборудованием, которое используется в подготовке специалистов для управления АЭС.

1 марта 2011 года в рамках встречи российско-американской рабочей группы по Нанотехнологии в Министерстве образования и науки РФ от НИЯУ МИФИ были представлены несколько проектов. Доклады участников делегации, возглавляемой ректором НИЯУ МИФИ М.Н.Стрихановым, были встречены с большим интересом, в том числе уже знакомая им презентация планируемого совместного российско-американского проекта "Инструменты индустриальной нанометрологии нового поколения".

Американским партнером по этому проекту является компания Nanometrology International Inc., специализирующаяся в разработке нанометрологических решений для микроэлектронной промышленности. Учредители компании - бывшие выпускники МИФИ, некоторые из которых имеют более чем 20-летний опыт работы в наноиндустрии США. Президент компании Владимир Украинцев - признанный эксперт в области нанометрологии в США и во всем мире. Работа будет выполняться с привлечением ряда российских и американских компаний, а также метрологических институтов, таких как NIST, ВНИИФТРИ и ВНИИМС.

Проект нацелен на решение четырех задач:

1) Улучшение точности измерений сканирующих электронных микроскопов, основанноe на паралельном использовании данных референс-метрологии и Монте-Карло вычислений, для моделирования и коррекции систематической погрешности электронного микроскопа; достижение неопределённости измерений 0,5 нм с привязкой измерений к системе СИ.

2) Создание трехмерного "лабораторного" атомно-силового микроскопа критических размеров, способного к измерениям профиля объектов со сложной геометрией, для широкого круга пользователей нано- науки, инженерии и производства.

3) Создание новых гибридных метрологических и аналитических приборов для нанотехнологии, объединяющих преимущества зондовых, оптических, электронных, ионных сканирующих и просвечивающих микроскопов.

4) Создание трёхмерного атомно-силового микроскопа критических размеров с системой обратной связи на основе оптического многоканального интерферометра и прямой привязкой измерений к системе СИ с неопределенностью измерения 0,2 нм.

Пользователями уникальной нанометрологической методики, а в дальнейшем и гибридных приборов, будут крупнейшие производители наноэлектроники и новой наноиндустрии, такие как IBM, Intel, Toshiba, Samsung.

В ходе проекта планируется создание в НИЯУ МИФИ Нанометрологического центра. Спектр задач этого центра включает, кроме научно-исследовательской деятельности, также и образовательную компоненту. Планируется цикл лекций по нанотехнологии и нанометрологии, которые будут читать в НИЯУ МИФИ видные американские ученые. Кроме этого, создаваемый центр сможет предоставлять услуги по проведению точных измерений, как для заинтересованных подразделений НИЯУ МИФИ, так и для внешних заказчиков. Это позволит объединить вокруг НИЯУ МИФИ российские предприятия, производящие нанопродукцию и сделает университет крупным игроком в наноотрасли.


Количество показов: 1861

Возврат к списку


Добавить комментарий