Письмо ректору

  Телефонный   справочник

    Электронная     почта

  Министерство науки и высшего образования РФ
5-100.png Программа повышения конкурентоспособности
Противодействие коррупции
Наука и образование против террора
Диссертационные советы
Российский студенческий центр
Социальный навигатор
Оформление социальной студенческой карты
Study in Russia
NEVOD.png Уникальная научная установка НЕВОД
TEMP.png Турнир «ТеМП 2018»
50x75.png Международная олимпиада для студентов
Олимпиада «Я - профи»
eend_fond.png Эндаумент-фонд НИЯУ МИФИ



Новости университета



09.03.2011

Участие НИЯУ МИФИ в работе Российско-Американской Президентской комиссии

28 февраля в рамках работы Российско-Американской Президентской комиссии НИЯУ МИФИ посетила делегация экспертов, представителей университетов и национальных лабораторий США, входящих в рабочую группу комиссии по научным и технологическим связям. Делегацию возглавлял директор Национального координационного офиса США по нанотехнологиям Тиге Клатон.

Российско-Американская Президентская комиссия была создана по итогам встречи президентов России и США Д.А. Медведева и Барака Обамы в июле 2009 года для определения направлений сотрудничества по совместным проектам и действиям, направленным на достижение стратегической стабильности, международной безопасности, экономического благосостояния.

Сотрудничество ведущих вузов США и России заключается в формировании совместных международных программ и проектов, обмене преподавательским и профессорским составом, обеспечении академической мобильности, поддержке научно-исследовательской деятельности молодых ученых, а также создании инструментов эффективного взаимодействия с органами власти и бизнес-сообществом.

В частности, рабочая группа по научным и технологическим связям под председательством директора Офиса по политике в сфере науки и технологий Белого дома Джона Холдрена и Министра образования и науки РФ А.А.Фурсенко работает над решением совместных задач, связанных с климатологией, информационными технологиями и нанотехнологиями.

Перед гостями НИЯУ МИФИ выступили:

М.П.Панин, проректор, исполнительный директор Программы создания и развития НИЯУ МИФИ, с презентацией об истории создания, современных задачах и перспективах развития университета;

И.С.Васильевский, доцент кафедры №67 «Физика наноразмерных гетероструктур и СВЧ-наноэлектроники», с докладом «Наноматериалы и нанотехнологии для создания нанотранзисторов и монолитных интегральных схем КВЧ диапазона длин волн»;

М.А.Пушкин, доцент кафедры №78 «Физико-технические проблемы метрологии», с докладом «Инструменты индустриальной нанометрологии нового поколения»;

А.А.Писарев, профессор кафедры №21 «Физика плазмы», с докладом «Разработка новых суперконденсаторов»;

А.П.Менушенков, профессор, декан Высшего физического колледжа, с докладом «Применение нанодобавок тугоплавких соединений для повышения критического тока высокотемпературных сверхпроводящих материалов»;

Р.В.Петров, заместитель начальника Управления развития перспективных исследований, с докладом «Исследование и разработка наноструктурной бессвинцовой пьезоэлектрической керамики для построения магнитоэлектрических устройств»;

В.Л.Саваторова, доцент кафедры №6 «Общая физика», с сообщением: «Российско-американская программа развития сотрудничества в высшем образовании и научных исследованиях между Национальным исследовательским ядерным университетом «МИФИ» и Техасским университетом;

Н.Б.Нарожный, заместитель председателя Ученого совета, заведующий кафедрой №32 «Теоретическая ядерная физика», с сообщением о сотрудничестве НИЯУ МИФИ с Университетом Мериленд, целью которого является разработка совместных образовательных программ в области инженерной ядерной физики.

По окончании докладов гости посетили Наноцентр НИЯУ МИФИ и кафедру №2 «Автоматика», оснащенную оборудованием, которое используется в подготовке специалистов для управления АЭС.

1 марта 2011 года в рамках встречи российско-американской рабочей группы по Нанотехнологии в Министерстве образования и науки РФ от НИЯУ МИФИ были представлены несколько проектов. Доклады участников делегации, возглавляемой ректором НИЯУ МИФИ М.Н.Стрихановым, были встречены с большим интересом, в том числе уже знакомая им презентация планируемого совместного российско-американского проекта "Инструменты индустриальной нанометрологии нового поколения".

Американским партнером по этому проекту является компания Nanometrology International Inc., специализирующаяся в разработке нанометрологических решений для микроэлектронной промышленности. Учредители компании - бывшие выпускники МИФИ, некоторые из которых имеют более чем 20-летний опыт работы в наноиндустрии США. Президент компании Владимир Украинцев - признанный эксперт в области нанометрологии в США и во всем мире. Работа будет выполняться с привлечением ряда российских и американских компаний, а также метрологических институтов, таких как NIST, ВНИИФТРИ и ВНИИМС.

Проект нацелен на решение четырех задач:

1) Улучшение точности измерений сканирующих электронных микроскопов, основанноe на паралельном использовании данных референс-метрологии и Монте-Карло вычислений, для моделирования и коррекции систематической погрешности электронного микроскопа; достижение неопределённости измерений 0,5 нм с привязкой измерений к системе СИ.

2) Создание трехмерного "лабораторного" атомно-силового микроскопа критических размеров, способного к измерениям профиля объектов со сложной геометрией, для широкого круга пользователей нано- науки, инженерии и производства.

3) Создание новых гибридных метрологических и аналитических приборов для нанотехнологии, объединяющих преимущества зондовых, оптических, электронных, ионных сканирующих и просвечивающих микроскопов.

4) Создание трёхмерного атомно-силового микроскопа критических размеров с системой обратной связи на основе оптического многоканального интерферометра и прямой привязкой измерений к системе СИ с неопределенностью измерения 0,2 нм.

Пользователями уникальной нанометрологической методики, а в дальнейшем и гибридных приборов, будут крупнейшие производители наноэлектроники и новой наноиндустрии, такие как IBM, Intel, Toshiba, Samsung.

В ходе проекта планируется создание в НИЯУ МИФИ Нанометрологического центра. Спектр задач этого центра включает, кроме научно-исследовательской деятельности, также и образовательную компоненту. Планируется цикл лекций по нанотехнологии и нанометрологии, которые будут читать в НИЯУ МИФИ видные американские ученые. Кроме этого, создаваемый центр сможет предоставлять услуги по проведению точных измерений, как для заинтересованных подразделений НИЯУ МИФИ, так и для внешних заказчиков. Это позволит объединить вокруг НИЯУ МИФИ российские предприятия, производящие нанопродукцию и сделает университет крупным игроком в наноотрасли.


Количество показов: 1916

Возврат к списку


Добавить комментарий