Сотрудники НОЦ «Стойкость» приняли участие в Международной научно-технической конференции по современной радиоэлектронной аппаратуре

В период с 5 по 7 апреля сотрудники НОЦ «Стойкость» (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») Никифоров А.Ю., Боруздина А.Б., Московская Ю.М., Кессаринский Л.Н., Уланова А.В., Усачев Н.А. приняли участие с устными докладами в ежегодной Международной научно-технической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой» («Сертификация ЭКБ - 2017»), которая проходила в г. Санкт-Петербург.

В этом году в работе конференции приняли участие более 400 специалистов из более чем 50 организаций России и Республики Беларусь, среди которых Министерство промышленности и торговли РФ, АО «Российская электроника», ФГУП «МНИИРИП», ГК «Ростехнологии», ГК «Роскосмос», ФГУП «18 ЦНИИ» МО РФ, АО «РНИИ «Электронстандарт» и многие другие.

Основная работа конференции проходила в течение двух дней на пленарном (18 докладов) и секционном заседаниях (44 доклада), в том числе стендовой секции (6 докладов).

Основными тематическими вопросами, обсуждаемыми на конференции, являлись:

• вопросы и проблемы обеспечения импортозамещения ЭКБ ИП в радиоэлектронной аппаратуре;
• новые разработки ЭКБ ОП;
• современные вопросы стандартизации и сертификации в области ЭКБ;
• вопросы выбора и применения ЭКБ ОП и ИП для высоконадежной аппаратуры;
• надежность и радиационная стойкость современной ЭКБ и особенности их оценки для высоконадежной аппаратуры;
• порядок применения ЭКБ ИП в радиоэлектронной аппаратуре;
• порядок подтверждения соответствия ЭКБ ИП условиям применения;
• методы выявления контрафактной ЭКБ ИП.

Перечень докладов сотрудников НОЦ «Стойкость»:

ПЛЕНАРНЫЕ ДОКЛАДЫ:

1.

Название доклада: Состояние и развитие системы оценки и контроля радиационной стойкости ЭКБ

Авторы: А.Ю. Никифоров, В.А. Телец, О.А. Калашников, Д.В. Бойченко, А.В. Уланова, Л.Н. Кессаринский, Г.В. Чуков

2.

Название доклада: Тенденции и проблемные вопросы создания радиационно-стойкой электронной компонентной базы твердотельной СВЧ электроники

Авторы: В.В. Елесин, Г.Н. Назарова, А.Ю. Никифоров, Д.И. Сотсков, В.А. Телец, Н.А. Усачёв,Г.В. Чуков, , И.Н. Кабанов, А.Н. Щепанов

ДОКЛАДЫ В СЕКЦИЯХ:

3.

Название доклада: Новые возможности исследований и прогнозного контроля радиационной стойкости ЭКБ в процессе разработки и производства

Авторы: Ю.М. Московская, А.Ю. Никифоров, Д.В. Бобровский, Д.В. Бойченко

4.

Название доклада: Радиационная стойкость различных классов оптических изделий: доминирующие эффекты, методики испытаний и основные результаты

Авторы: А.В. Уланова, М.Е. Черняк, А.А. Печенкин, А.Г. Петров, А.Ю. Никифоров, А.И. Чумаков

5.

Название доклада: Катастрофические отказы ЭКБ от ТЗЧ: основные эффекты, особенности испытаний и оценки соответствия изделий требованиям ТЗ

Авторы: А.В. Яненко, А.Б. Боруздина, А.И. Чумаков, А.А. Печенкин, Д.В. Бобровский.

6.

Название доклада: Особенности поведения и оценки радиационной стойкости аналоговых полузаказных СБИС.

Авторы: Л.Н. Кессаринский, А.Я. Борисов, Д.В.Бойченко, Ю.М.Московская, В.В.Эннс