Представитель ИНТЭЛ представит доклады на Международной конференции NSREC-2017 в США

Доцент кафедры №27 Института нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике НИЯУ МИФИ А.С. Бакеренков примет участие в Международной конференции по эффектам ядерной и космической радиации NSREC-2017, которая пройдет в Новый Орлеане, США, с 17 по 21 июля 2017 года.

Он представит два доклада для публикации в сборнике «IEEE Radiation Effects Data Workshop»:

"The Impact of Annealing on the Following Radiation Degradation Rate of Bipolar Devices" (А.С. Бакеренков, А.С. Родин, В.С. Першенков, В.А. Фелицын, Ю.Д. Бурсян);

"Total Dose Radiation Response of n-Channel Enchancement Mode Field Effect Transistors over Wide Operation Temperature Range" (А.С. Бакеренков, В.А. Фелицын,В.В. Орлов, А.С. Родин, Г.И. Зебрев).