Ваш браузер безнадежно устарел, для работы с порталом его необходимо обновить или установить любой другой современный браузер.
iexplorerfirefoxoperachromesafari

Научные сотрудники НОЦ «Стойкость» выступили на Международной конференции «СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии»

24
октября
2019

Сотрудники НОЦ «Стойкость» НИЯУ МИФИ Дмитрий Громов, Никита Жидков и Илья Селищев приняли участие с четырьмя устными докладами в 29-й Международной Крымской конференции «СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии» (КрыМиКо-2019), которая проходила на территории Севастопольского государственного университета.

В работе конференции участвовали более 300 ученых и специалистов из России, Белоруссии, Китая и Украины. На трех пленарных и 36-ти секционных заседаниях было представлено более 400 докладов по теоретическим, экспериментальным, производственно-технологическим, прикладным и историческим аспектам СВЧ-техники и телекоммуникационных технологий.

По решению программного комитета соавтор одного из докладов НОЦ «Стойкость» Илья Селищев награжден дипломом за лучшую научную работу, представленную молодым ученым (аспирантом) на конференции.

Также сотрудники НОЦ «Стойкость» представили следующие доклады в секции «Электромагнитная и радиационная стойкость материалов и ЭКБ» (руководитель секции профессор НИЯУ МИФИ Д.В. Громов):

  1. «Долговременные эффекты восстановления характеристик полевых транзисторов с затвором Шоттки при воздействии импульсного ионизирующего излучения / Громов Д.В., Елесин В.В.
  2. Влияние радиации на характеристики резонансно-туннельных диодов / Громов Д.В., Полевич С.В.
  3. Долговременные параметрические сбои в быстродействующих переключателях сигналов, выполненных по E/D PHEMT технологии с проектной нормой 0,1 мкм/ Кузнецов А.Г., Елесин В.В., Усачев Н.А., Чуков Г.В.
  4. Первый опыт контрактного производства радиационно-стойких СВЧ усилителей по отечественной технологии pHEMT 0,5 мкм / Сотсков Д.И., Усачев Н.А., Елесин В.В., Селищев И.А., Амбуркин К.М., Кузнецов А.Г.
  5. Использование вероятностных нечетких моделей при прогнозировании функциональных отказов СВЧ БИС при воздействии радиации / Барбашов В.М., Трушин Н.С.

Полные тексты докладов планируются к публикации в журналах ITM Web of Conferences (252 доклада), Ural Radio Engineering Journal (33 доклада) и «Инфокоммуникационные и радиоэлектронные технологии» (55 докладов).

16