Письмо ректору

  Телефонный   справочник

    Электронная     почта

  Министерство науки и высшего образования РФ
5-100.png Программа повышения конкурентоспособности
Противодействие коррупции
Наука и образование против террора
Диссертационные советы
Российский студенческий центр
Социальный навигатор
Оформление социальной студенческой карты
Study in Russia
NEVOD.png Уникальная научная установка НЕВОД
TEMP.png Турнир «ТеМП 2018»
Олимпиада «Я - профи»
eend_fond.png Эндаумент-фонд НИЯУ МИФИ



Новости университета



26.02.2014

На кафедре №70 разработана уникальная методика бесконтактного измерения пространственного распределения тока в микро- и нано- структурах

Созданная методика обеспечивает проведение измерений токовых путей в сложных топологических системах, определение двумерного распределения тока в планарных микро- и нано- структурах на основе измерения индуцированного магнитного поля с помощью техники магнито-силовой микроскопии с пространственным разрешением менее 20 нм, исследование явления электромиграции и разрушения токовых каналов при высоких плотностях тока в наносистемах.


Количество показов: 929

Возврат к списку


Добавить комментарий