НОЦ «Стойкость» НИЯУ МИФИ – дипломант конкурса «Золотой чип» выставки «Новая электроника-2016»

НОЦ «Стойкость» (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») принял участие в выставке «Новая электроника 2016», которая проходила в середине апреля в ЦВК «Экспоцентр». Среди 247 участников из 15 государств, в том числе, России, были крупнейшие отечественные и зарубежные компании, поставляющие на российский рынок более 90% электронных компонентов и модулей.

В рамках выставки с 2004 года ежегодно проходит всероссийский конкурс на независимую отраслевую премию «Золотой Чип», которой удостаиваются лучшие российские компании электронной отрасли. В этом году организаторами выставки введена отдельная пятая номинация Конкурса «Золотой Чип» «За достижения в испытании и контроле качества электронной компонентной базы» и организована тематическая экспозиция «Испытания и контроль качества ЭКБ». Причины создания экспозиции и номинации обусловлены: возрастающими требованиями к качеству поставляемой из-за рубежа, производимой в РФ и используемой на предприятиях радиоэлектроники РФ электронной компонентной базы и наличием требований по проведению испытаний ЭКБ на стойкость к внешним механическим, климатическим и радиационным дестабилизирующим факторам.

НОЦ «Стойкость» (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») принял участие в экспозиции и конкурсе «Золотой Чип» в данной номинации наряду с более чем 30 другими компаниями – испытательными центрами, лабораториями контроля качества и сертификации, разработчиками и производителями и поставщиками контрольно-измерительного оборудования и приборов.

В результате стал победителем Конкурса «Золотой Чип – 2016» и, получив 1 место в номинации: «За достижения в испытаниях и контроле качества ЭКБ», был награжден статуэткой «Золотой Чип» и дипломом 1-й степени.