В ИЭПЭ МИФИ проанализировали воздействие радиации космоса на интегральные микросхемы
21
июля
2016
Сотрудники Института экстремальной прикладной электроники совместно с коллегами из АО «ЭНПО СПЭЛС, ЗАО НТЦ «Модуль», ФГУП «МНИИРИП» проанализировали сбое- и отказоустойчивость (при воздействии тяжелых заряженных частиц (ТЗЧ) и дозовом воздействии) отечественных интегральных микросхем семейства 1879ВАхх/1895ВАхх производства ЗАО НТЦ «Модуль» – протокольных контроллеров мультиплексного канала передачи данных по стандарту ГОСТ Р 52070-2003 (МКПД). Наибольший вклад в данную работу внес Алексей Ахметов.
Из проведенного анализа результатов испытаний следует, что ИС 1895ВА1Т, 1895ВА1АТ, 1895ВА2Т, 1895ВА3Т удовлетворяют требованиям к микросхемам космического применения: стойкость к воздействию ТЗЧ по эффектам отказов более 60 МэВ∙см2/мг, дозовая стойкость более 100 крад. Применение данных интегральных схем можно рекомендовать взамен иностранных аналогов BU-61580, NHI-1582 и др. при использовании радиационно-стойких приёмопередатчиков (драйверов канала МКПД) или использовать микросборку К2605ВГ1Т.
29
