Сотрудники НОЦ «Стойкость» приняли участие в Международной научно-технической конференции по современной радиоэлектронной аппаратуре
В период с 5 по 7 апреля сотрудники НОЦ «Стойкость» (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») Никифоров А.Ю., Боруздина А.Б., Московская Ю.М., Кессаринский Л.Н., Уланова А.В., Усачев Н.А. приняли участие с устными докладами в ежегодной Международной научно-технической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой» («Сертификация ЭКБ - 2017»), которая проходила в г. Санкт-Петербург.
В этом году в работе конференции приняли участие более 400 специалистов из более чем 50 организаций России и Республики Беларусь, среди которых Министерство промышленности и торговли РФ, АО «Российская электроника», ФГУП «МНИИРИП», ГК «Ростехнологии», ГК «Роскосмос», ФГУП «18 ЦНИИ» МО РФ, АО «РНИИ «Электронстандарт» и многие другие.
Основная работа конференции проходила в течение двух дней на пленарном (18 докладов) и секционном заседаниях (44 доклада), в том числе стендовой секции (6 докладов).
Основными тематическими вопросами, обсуждаемыми на конференции, являлись:
- вопросы и проблемы обеспечения импортозамещения ЭКБ ИП в радиоэлектронной аппаратуре;
- новые разработки ЭКБ ОП;
- современные вопросы стандартизации и сертификации в области ЭКБ;
- вопросы выбора и применения ЭКБ ОП и ИП для высоконадежной аппаратуры;
- надежность и радиационная стойкость современной ЭКБ и особенности их оценки для высоконадежной аппаратуры;
- порядок применения ЭКБ ИП в радиоэлектронной аппаратуре;
- порядок подтверждения соответствия ЭКБ ИП условиям применения;
- методы выявления контрафактной ЭКБ ИП.
Перечень докладов сотрудников НОЦ «Стойкость»:
ПЛЕНАРНЫЕ ДОКЛАДЫ:
1.
Название доклада: Состояние и развитие системы оценки и контроля радиационной стойкости ЭКБ
Авторы: А.Ю. Никифоров, В.А. Телец, О.А. Калашников, Д.В. Бойченко, А.В. Уланова, Л.Н. Кессаринский, Г.В. Чуков
2.
Название доклада: Тенденции и проблемные вопросы создания радиационно-стойкой электронной компонентной базы твердотельной СВЧ электроники
Авторы: В.В. Елесин, Г.Н. Назарова, А.Ю. Никифоров, Д.И. Сотсков, В.А. Телец, Н.А. Усачёв,Г.В. Чуков, , И.Н. Кабанов, А.Н. Щепанов
ДОКЛАДЫ В СЕКЦИЯХ:
3.
Название доклада: Новые возможности исследований и прогнозного контроля радиационной стойкости ЭКБ в процессе разработки и производства
Авторы: Ю.М. Московская, А.Ю. Никифоров, Д.В. Бобровский, Д.В. Бойченко
4.
Название доклада: Радиационная стойкость различных классов оптических изделий: доминирующие эффекты, методики испытаний и основные результаты
Авторы: А.В. Уланова, М.Е. Черняк, А.А. Печенкин, А.Г. Петров, А.Ю. Никифоров, А.И. Чумаков
5.
Название доклада: Катастрофические отказы ЭКБ от ТЗЧ: основные эффекты, особенности испытаний и оценки соответствия изделий требованиям ТЗ
Авторы: А.В. Яненко, А.Б. Боруздина, А.И. Чумаков, А.А. Печенкин, Д.В. Бобровский.
6.
Название доклада: Особенности поведения и оценки радиационной стойкости аналоговых полузаказных СБИС.
Авторы: Л.Н. Кессаринский, А.Я. Борисов, Д.В.Бойченко, Ю.М.Московская, В.В.Эннс