Студенты Массачусетского технологического института (MIT, США) пройдут стажировку в НИЯУ МИФИ
05
июня
2014
Студент-бакалавр MIT Джейк Хекл (Jake Jordan Hecla) пройдет стажировку в Инжиниринговом центре НИЯУ МИФИ. Цель его работы будет заключаться в модификации существующих схем включения кремниевых фотоумножителей полупроводниковых детекторов, также известных как «твердотельные счетчики фотонов», которые широко используются в физике элементарных частиц, медицине, биологии и других высокотехнологичных областях.
Студентка-бакалавр MIT Камиль Ричман (Camille Elyse Richman) планирует заниматься на кафедре №9 НИЯУ МИФИ высокотемпературной пайкой тугоплавких металлов – вольфрама, молибдена и графита для создания соединения в узле рентгеновской трубки с вращающимся анодом. Ее исследование будет заключаться в подборе химического состава припоя, исследовании припоя методами дифференциально-термического анализа и рентгеновской дифрактометрии, пайку соединений и исследование соединений методом растровой и оптической микроскопии.
Кроме научной работы американские студенты будут изучать русский язык, для них предусмотрены занятия до 6 часов в неделю.
Практика студентов Массачусетского технологического института продлится до 25 августа 2014 года.
5
