Сотрудники ИЭПЭ НИЯУ МИФИ сделали доклад на европейском симпозиуме ESREF-2015 во Франции

Сотрудники ИЭПЭ НИЯУ МИФИ приняли участие в международном симпозиуме 26^th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2015), который прошел во Франции в г. Тулуза в октябре этого года.

Международная конференция, посвященная вопросам повышения, определения надежности, поиску и анализу причин отказов, статистической обработке экспериментальных результатов испытаний материалов, устройств, микроэлектроники, организации испытательного процесса и др.

Программа работы была разделена на секции:

• Quality and Reliability Assessment – Techniques and Methods for Devices and Systems
• Si Technologies & Nanoelectronics: Hot carriers, high K, gate materials
• Si Technologies & Nanoelectronics: Low K, Cu Interconnects
• Si Technologies & Nanoelectronics: ESD, Latch-up, Radiation Effects
• Failure Analysis
• Microwave and Power Wide Bandgap Devices
• Photonic Devices
• Photovoltaic & Organic Devices
• Packages & Assembly
• MEMS, MOEMS, NEMS & Nano-objects.
• Power Devices Smart-power devices, IGBT, thyristors, High voltage devices, Thermal management
• Space, Aeronautic and Embedded Systems
• European FIB User Group (EFUG)