Сотрудники ИЭПЭ НИЯУ МИФИ, аспиранты и студенты университета приняли активное участие в XIV научно-практической конференции NIDays-2015

XIV ежегодная научно-практическая конференция компании National Instruments (NI) NIDays-2015 была посвящена современным измерительным и информационным технологиям построения автоматизированных систем тестирования, управления и мониторинга.

Научно-образовательный центр «Стойкость» (совместный проект ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС»), выступил в роли партнера NI, представив на выставке стенд «Контроль работоспособности ЭКБ при испытаниях на стойкость к внешним СВФ».

Представители ИЭПЭ НИЯУ МИФИ приняли активное участие в работе конференции. В пленарной части «Системы тестирования микросхем и компонентов от прототипа до серии» они выступили соавторами (содокладчиками) устной презентации NI, а в секции «Электроника и радиотехника» сотрудники, аспиранты и студенты университета представили 15 постерных докладов:

- Автоматизированный аппаратно-программный комплекс для проведения функционального и параметрического контроля микропроцессоров с архитектурой MIPS

А.Б. Каракозов, П.В. Некрасов, В.А. Марфин

АО "ЭНПО СПЭЛС" / ИЭПЭ НИЯУ МИФИ

- Аппаратно-программный комплекс функционального и параметрического контроля ARM микроконтроллеров семейства stm32f1xx

А.Ю.Егоров, П.В.Некрасов, О.А.Калашников

АО "ЭНПО СПЭЛС" / ИЭПЭ НИЯУ МИФИ

- Аппаратно-программный комплекс для тестирования микроконтроллеров со встроенным АЦП

И.О. Лоскутов, П.В. Некрасов, А.Б. Каракозов

АО "ЭНПО СПЭЛС" / ИЭПЭ НИЯУ МИФИ

- Использование модульного оборудования PXI NATIONAL INSTRUMENTS для тестирования работоспособности микропроцессоров цифровой обработки сигналов

В.А. Марфин, П.В. Некрасов

АО "ЭНПО СПЭЛС" / ИЭПЭ НИЯУ МИФИ

- Усовершенствованная система измерения КМОП КНИ тестовых структур

И.И. Швецов-Шиловский1,2, П.В. Некрасов1,2, А.В. Уланова1,2

АО«ЭНПО Специализированные электронные системы»,115409, г. Москва

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

- Функциональный и параметрический контроль датчиков температуры с помощью модуля NI MYRIO

Москаленко К.А., Некрасов П.В., Каракозов А.Б., Омар К.М.

АО "ЭНПО СПЭЛС" / ИЭПЭ НИЯУ МИФИ

- Особенности регистрации и контроля тиристорного эффекта в микросхемах с многоканальным питанием

А.Б. Каракозов

АО "ЭНПО СПЭЛС" / ИЭПЭ НИЯУ МИФИ

- Автоматизированная система тестирования аудиокодека

Д.С. Костюченко, И.А. Можаев, П.В. Некрасов

АО "ЭНПО СПЭЛС" / ИЭПЭ НИЯУ МИФИ

- Система управления микросхемами прямого цифрового синтеза фирмы ANALOG DEVICES

И.О. Лоскутов, И.И. Швецов-Шиловский, П.В. Некрасов

АО «ЭНПО Специализированные электронные системы»

Национальный Исследовательский Ядерный Университет «МИФИ»

- Аппаратно-программный стенд контроля цифровых базовых матричных кристаллов с использованием карт заказа

Г.С. Сорокоумов, Д.В. Бобровский, Ю.М. Московская, О.А. Калашников, А.В. Уланова, П.В.Некрасов

АО «ЭНПО Специализированные электронные системы»

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

- Автоматизация обработки данных при работе с осциллографом в ходе радиационного эксперимента с помощью по NI LABVIEW

С.Б. Шмаков М.Е. Черняк П.К. Скоробогатов, А.Ю. Никифоров

АО «ЭНПО Специализированные электронные системы»

Национальный Исследовательский Ядерный Университет «МИФИ

- Автоматизированная система контроля критериев годности интерфейсных микросхем стандарта MIL-STD-1553 при испытаниях

Г.С. Сорокоумов, А.Р. Бибеа, А.О. Ахметов, Д.В. Бобровский, А.И. Чумаков

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

АО «ЭНПО Специализированные электронные системы»

- Аппаратно-программный комплекс измерения параметров оптореле с выходными дмоп-транзисторами на базе PXI-платформы NATIONAL INSTRUMENTS

Е.В. Петрова, Н.А. Комарова, М.Е. Черняк, А.В. Уланова, А.Ю. Никифоров

ОАО «ЭНПО Специализированные электронные системы»

Национальный Исследовательский Ядерный Университет «МИФИ»

- Автоматизированная система контроля работоспособности микросхем FRAM во время внешнего воздействия

Ф.Ф. Тайибов , А.Б. Боруздина , А.В. Уланова , А.В. Яненко

Национальный Исследовательский Ядерный Университет «МИФИ»

АО «ЭНПО Специализированные электронные системы»

- Система измерения параметров элементов цифровых БИС

Г.Г. Давыдов, А.С. Колосова, А.В. Согоян, Ю.А. Ожегин

АО «ЭНПО Специализированные электронные системы»