Сотрудники ИФЯЭ НИЯУ МИФИ прошли курс повышения квалификации по теме «Просвечивающая электронная микроскопия»
15
января
2016
Двое сотрудников Института функциональной ядерной электроники прошли обучение теории и практике работы на просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ) в Институте биохимической технологии и нанотехнологии РУДН.
В программу курса входили основы метода ПЭМ, принципы формирования изображения и дифракционной картины, различные режимы работы ПЭМ, а также практические аспекты юстировки и калибровки микроскопа и приготовления образцов. Были затронуты и другие вопросы, связанные в частности с интерпретацией и моделированием изображений. Метод ПЭМ чрезвычайно важен как средство исследования кристаллических материалов и наноструктур с атомным разрешением. Результаты обучения подтверждены удостоверениями о повышении квалификации.
19
