В ИЭПЭ МИФИ предложили методику исследований эффектов одиночных сбоев в аналого-цифровых преобразователей при воздействии тяжелых заряженных частиц
15
июля
2016
Сотрудники Института экстремальной прикладной электроники совместно с коллегами из АО «ЭНПО СПЭЛС» предложили модифицированную методику исследования чувствительности аналого-цифрового преобразователя (АЦП) по эффектам одиночных сбоев, основанную на методе гистограмм. Чувствительность АЦП по эффектам сбоев может различаться в зависимости от входного напряжения. Проводить исследования в каждой точке шкалы нецелесообразно. Для учета зависимости сечения сбоев от входного напряжения исследования проводятся для трех значений входного напряжения, соответствующих краям шкалы и середине шкалы. Наибольший вклад в данную работу внес Дмитрий Бобровский.
Предложенная методика позволяет оценить чувствительность микросхем АЦП по эффектам сбоев при воздействии тяжелых заряженных частиц, а также выявить наиболее критичные входные напряжения и распределение зарегистрированных сбоев по шкале.
5
