Письмо ректору


Новости университета



27.07.2017

На конференции IEEE по космическим и ядерным радиационным эффектам в США представлено два доклада сотрудников кафедры микро- и наноэлектроники ИНТЭЛ

фото в текст.jpg

С 17 по 21 июля в г. Новый Орлеан, США, штат Луизиана состоялась конференция IEEE по космическим и ядерным радиационным эффектам (2017 IEEE Nuclear and Space Radiation Effect Conference, NSREC-2017). Она проходит ежегодно и является крупнейшей международной научно-практической конференцией по радиационной стойкости электроники космического назначения.

В этом году были представлены несколько десятков устных докладов и более сотни стендовых участниками из ведущих мировых научно-исследовательских организаций, таких как: NASA, Роскосмос (ОАО ОРКК -"НИИ КП"), ESA, CERN, Vanderbilt University, University of Padova.

Доцент НИЯУ МИФИ Александр Сергеевич Бакеренков представил два доклада сотрудников кафедры микро- и наноэлектроники Института нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике (ИНТЭЛ) по исследованию эффекта послерадиационного отжига и радиационных эффектов в современных интегральных микросхемах в широком температурном диапазоне.

Доклады вызвали живой интерес участников конференции, поскольку тема исследования является актуальной не только с научной, но и с практической точки зрения. Сейчас работы активно продолжаются, результаты дальнейших исследований уже приняты для представления на ведущей европейской конференции по радиационной стойкости RADECS-2017, которая, в этом году, организована CERN и пройдет в Швейцарии, г. Женева с 2 по 6 октября.

 


Количество показов: 301

Возврат к списку


Добавить комментарий