Сотрудники кафедры № 27 разработали новый научный подход

03
марта
2014

Сотрудники кафедры микро-инаноэлектроники совместно со специалистами из НИИ системных исследований РАН и НИИ космического приборостроения Роскосмоса разработали новый подход к описанию и экспериментальной характеризации множественных сбоев от одиночных ионизирующих частиц в интегральных схемах памяти с наноразмерными технологическими нормами менее 100нм.