Сотрудники Лаборатории проектирования специализированных интегральных микросхем выступили с докладами на 17th International Workshop on Radiation Imaging Detectors
10
июля
2015
Сотрудники Лаборатории проектирования специализированных интегральных микросхем НИЯУ МИФИ (ASIC) приняли участие в международной конференции 17th International Workshop on Radiation Imaging Detectors (iWoRiD), прошедшей в г. Гамбурге, Германия с 28 июня по 3 июля 2015 г.
Было представлено 2 доклада:
- A low noise preamplifier for silicon drift detectors;
- Low-noise analog read out channel for SDD in X-Ray spectrometry.
В докладах сотрудников были представлены результаты работ, проводимых в Лаборатории проектирования специализированных интегральных микросхем НИЯУ МИФИ под руководством профессора Самсонов В.М., созданной в рамках Постановления Правительства РФ №220. Главной темой выступлений ученых стало проектирование считывающей электроники для кремниевых дрейфовых детекторов.
5
