ИЭПЭ НИЯУ МИФИ совместно с АО «ЭНПО СПЭЛС» принял активное участие в конференции RADECS-2015

С 14 по 18 сентября 2015 года в конгресс-центре Гостиницы Измайлово «Альфа» в г. Москве состоялась Международная конференция по радиационным эффектам в компонентах и системах – The Conference on RADiation Effects on Components and Systems (RADECS-2015), которая является крупнейшей в Европе по вопросу контроля и обеспечения радиационной стойкости ЭКБ и РЭА космического применения. RADECS-2015 проводилась при поддержке Роскосмоса, Департамента науки, промышленной политики и предпринимательства г. Москвы, Минпромторга и Международной ассоциации RADECS. Организатором конференции выступил ОАО «ОРКК» - «НИИ КП», а соорганизаторами и спонсорами – НИЯУ МИФИ, АО «ЭНПО СПЭЛС», ОИЯИ, ФГУП «НИИП» (Россия), CERN (Швейцария), CACEC (Китай) и другие.

ИЭПЭ НИЯУ МИФИ совместно с АО «ЭНПО СПЭЛС» участвовали в конференции обширным составом из 45 специалистов. В конференции приняли участие более 450 специалистов, в том числе из Роскосмоса, ОАО «ОРКК», Минпромторга России, ГК «Росатом», РАН, Минобрнауки России, Минобороны России и их подведомственных предприятий, а также передовых предприятий России, стран СНГ и зарубежья, а именно испытательных сертификационных центров ЭКБ (ЭРИ), фирм-изготовителей и разработчиков ЭКБ (ЭРИ) и аттестованных вторых поставщиков ЭКБ (ЭРИ).

Работа RADECS-2015 проходила по трем направлениям: техническая программа, индустриальная выставка и краткий курс.

На кратком курсе председательствовал профессор кафедры Электроники «НИЯУ МИФИ», заместитель директора ИЭПЭ НИЯУ МИФИ А.И. Чумаков. Краткий курс для специалистов в области радиационной стойкости состоял из 7 лекций, 2 из которых представили специалисты ИЭПЭ НИЯУ МИФИ.

Председателем основной технической программы конференции был доцент кафедры «Электроника», заместитель директора ИЭПЭ НИЯУ МИФИ, генеральный директор АО «ЭНПО СПЭЛС» Д.В. Бойченко. В четырех из десяти секциях, постерной секции и на одном из круглых столов председательствовали ученые НИЯУ МИФИ: А.В. Уланова, П.К. Скоробогатов, О.А. Калашников и А.В. Яненко, В.М. Першенков и Г.И. Зебрев.

В общей сложности сотрудниками НИЯУ МИФИ на секциях было представлено более 20 докладов. Участниками конференции, особенно иностранными коллегами, был отмечен высокий уровень наших докладов и презентаций, а по результатам выступлений на круглом столе к специалистам ИЭПЭ НИЯУ МИФИ поступило обращение с просьбой сделать приглашенный доклад по лазерным методам испытаний ЭРИ в Севилье на Международной конвенции по радиационной стойкости в 2016г.

По итогам работы конференции доклад аспиранта кафедры 3 А.А. Смолина поделил первое место с представителем Франции, как лучший доклад молодого специалиста.

Параллельно с конференцией проводилась индустриальная выставка, в которой приняли участие 24 зарубежных и 14 российских компаний. Совместный стенд НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС» пользовался огромной популярностью среди участников конференции. Главный приз лотереи на нашем стенде - мобильный телефон YotaPhone 2 отправился к коллегам в CERN (Швейцария).