Аспирантка кафедры «Лазерная физика» представила Россию на международной конференции SPIE Scanning Microscopies в США
09
октября
2015
С 28 сентября по 1 октября в США в г. Монтерей состоялась международная конференция по Сканирующей микроскопии (SPIE Scanning Microscopies). На ней ежегодно представляются результаты работы крупнейших метрологических институтов мира, таких как NIST (США) и PTB (Германия).
Единственным участником из России была аспирантка кафедры «Лазерная физика» Центра плазменных и лазерных исследований и технологий Казиева Татьяна Вадимовна. Она представляла устный доклад «SPM metrological assurance using a heterodyne interferometer» по результатам работы Лаборатории лазерной диагностики НИЯУ МИФИ по созданию трехкооринатного интерферометра для измерения перемещений с субнанометровой точностью.
Разработанный интерферометр в декабре 2014 года вошел в состав Государственного первичного эталона твёрдости по шкалам Мартенса и шкалам индентирования (ВНИИФТРИ). Участниками конференции был отмечен высокий уровень презентации и инновационность представленных разработок.
2
