Сотрудники ИЭПЭ НИЯУ МИФИ приняли участие в подготовке научного издания для вузов по радиационной стойкости изделий ЭКБ
12
октября
2015
ИЭПЭ НИЯУ МИФИ совместно с АО "ЭНПО СПЭЛС" и кафедрой «Электроника» в рамках НОЦ "Стойкость" выпустили научное издание "Радиационная стойкость изделий ЭКБ" под редакцией профессора Чумакова А.И., ориентированное на специалистов в области испытаний, обеспечения и разработки интегральных схем и электронной аппаратуры, функционирующих при воздействии радиационных факторов. В подготовке издания приняли участия 12 сотрудников НИЯУ МИФИ. Издание может быть полезно для аспирантов и студентов вузов.
Данное издание основано на курсе уникальных лекций, прочитанных ведущими специалистами РФ в 2012-2014 гг. на школе-семинаре «Физические основы и методическое обеспечение моделирования воздействия ионизирующих и электромагнитных излучений на электрорадиоэлементы и блоки радиоэлектронной аппаратуры» «Радиационная стойкость ЭКБ».
В книге описываются основные радиационные эффекты в полупроводниковых приборах и интегральных схемах при воздействии ионизирующего излучения. Представлены материалы по физике взаимодействия ионизирующего излучения, описаны основные доминирующие радиационные эффекты в изделиях электронной компонентной базы и эффекты воздействия одиночных импульсов электрических напряжений. Рассмотрены радиационные эффекты в цифровых и аналоговых интегральных схемах. Изложены материалы по особенностям оценки и проектирования радиационно стойкой космической аппаратуры. Представлены методы и средства испытаний изделий электронной компонентной базы на стойкость к воздействию радиационных факторов.
По всем вопросам о книге следует обращаться в ИЭПЭ НИЯУ МИФИ.
46
